光電陰極與光敏電阻分別是外光電效應和內(nèi)光電效應原理在器件領域的成功應用范例。現(xiàn)代智能測試技術(shù)伴隨著計算機技術(shù)、自動控制技術(shù)的發(fā)展取得突破性進展，已被成功應用于光電器件的研制和生產(chǎn)中。本書以光電陰極與光敏電阻為例，詳細介紹了智能測試技術(shù)在光電器件的研制和生產(chǎn)中的應用。書中從GaN光電陰極光電發(fā)射機理，GaN光電陰極制備技術(shù)，GaN光電陰極光譜響應測試，GaN光電陰極穩(wěn)定性測試評估，光敏電阻檢測裝置硬件設計，光敏電阻檢測裝置軟件設計等方面進行了詳細的介紹。最后總結(jié)并展望了以光電陰極與光敏電阻為代表的光電器件的現(xiàn)代化測試評估技術(shù)。
喬建良：南陽理工學院副教授，博士研究生。完成中國博士后基金項目1項，參與完成國家自然科學基金項目2項，完成省部級科研項目5項，取得科研成果獎2項，近年來在國內(nèi)外重要學術(shù)刊物上發(fā)表學術(shù)論文30余篇，其中SCI收錄10余篇，EI收錄10余篇，出版教材5部。河南省高等學校青年骨干教師資助對象，南陽市學術(shù)技術(shù)帶頭人，中國百篇最具影響力國內(nèi)學術(shù)論文獲得者，曾榮獲河南省自然科學優(yōu)秀學術(shù)論文一等獎，南陽市青年科技獎。
